電氣測試運用的根本儀器是ict測試儀，傳統的在線測試儀丈量時運用特地的針床與已焊接好的線路板上的元器件接觸，並用數百毫伏電壓和 10毫安以內電流停止分立隔離測試，從而準確地測出所裝電阻、電感、電容、二極管、三極管、可控矽、場效應管、集成塊等通用和特殊元器件的漏裝、錯裝、參 數值偏向、焊點連焊、線路板開短路等毛病，並將毛病是哪個元件或開短路位於哪個點[敏感詞]通知用戶。

　　根本的ICT近年來隨著克製先進技術技術局限的技術而改善。例如，當集成電路變得太大以致於不可能為相當的電路掩蓋率提供探測目的時，ASIC工程師開發了邊境掃描技術。邊境掃描提供一個工業規範辦法來確認在不允許探針的中央的元件銜接。額外的電路設計到IC內麵，允許元件以簡單的方式與四周的元件通訊，以一個容易檢查的格式顯現測試結果。

　　另一個無矢量技術將交流(AC)信號經過針床施加到測試中的元件。一個傳感器板*住測試中的元件外表壓住，與元件引腳框構成一個電容，將信號巧合到傳感器板。沒有巧合信號表示焊點開路。用於大型複雜板的測試程序人工生成很費時費力，但自動測試程序產生軟件的呈現處理了這一問題，該軟件基於PCBA和CAD數據和裝配於板上的元件規格庫，自動地設計所請求的夾具和測試程序。固然這些技術有助於縮短簡單程序的生成時間，但高節點數測試程序的論證還是費時和具有技術應戰性。

　　那麽ICT測試儀開/短路測試程序的應該怎樣停止調試呢?

　　當生成開/短路測試數據文件後，為穩定及保險起見，請在開/短路自學習終了後選擇Test對本開/短路測試程序停止測試。測試機遇器會先作開路測試(Open Test),它是在同一鏈上，針號與針號作開路測試;後作短路測試(Short Test)，它是在不同鏈上針號與針號作短路測試。

　　例： Chain Node 1 1 2 6 12 25 40

　　2 3 11 19 32

　　在鏈1作開路測試：1-2、1-6 、1-12、1-25、1-40

　　在鏈2作開路測試：3-11、3-19、3-32

　　若鏈1、鏈2經過開路測試，則用鏈頭(Chain Head)作短路測試，即：1-3

　　在開路測試時，針號與針號的電阻若少於開路門檻值(Open Res)，則當作短路,此時開路測試Pass;在短路測試時，針號與針號的電阻若大於短路門檻值(Short Res)，則當作開路,此時短路測試Pass。

　　開/短路設有兩個門檻值，主要緣由是構成一個範圍，使組件值的差別不致使有不穩定或誤判的狀況發作。

　　測試後若程序穩定，則屏幕左下角推出“PASS”，請下壓針床壓頭來回幾次及測試幾次，以察看其能否穩定，若呈現“FAIL”，則作以下處置：

　　A、 徹底檢查顯現出的測試針(針號)能否接觸不良

　　B、在保證測試針接觸良好的狀況下，若呈現測試時好時壞，則查清能否受電感線圈的影響，假如是，則跳過顯現出的針號，操作辦法：確認光標在要跳過的針號項時選擇O/S Edit/Mask，這時針號項會變成紅色，標明已跳過這一針號。

　　因電感線圈在霎時得電時會產生感生電壓，可能會影響開/短路的測試，而使得測試程序工作不穩定。若某幾個測試針編號常出錯，而查實確實為此類問題，則有必要跳過這幾個測試針的編號。

　　被跳過的測試點在開/短路測試時將不思索該測試點與其它測試點的開/短路關係，但並不影響組件的測試。

　　以上就是小編為大家總結的關於ict測試儀怎樣停止短開路的測試的引見，希望可以幫到大家。